Приветствую Вас Гость | RSS Воскресенье
17.11.2019, 01:25
Эксплуатация устройств котлов отопления
Форма входа
Главная Регистрация Вход
Статистика

Онлайн всего: 1
Гостей: 1
Пользователей: 0
Поиск
Календарь
Архив записей
Друзья сайта
  • Официальный блог
  • Сообщество uCoz
  • FAQ по системе
  • Инструкции для uCoz
  • Главная » 2019 » Май » 3 » Изучено явление электромиграции в наноразмерных металлических проводах
    07:35
    Изучено явление электромиграции в наноразмерных металлических проводах
    Ученые из Мэрилендского университета (США) наблюдали в эксперименте движение и изменение размера «островков» атомов на поверхности серебряных наноразмерных проводов при пропускании тока по ним.

    Заинтересовавшее учёных явление электромиграции — переноса вещества под действием движущихся электронов — становится всё более значимым при уменьшении размеров схем. Сформированные ими «островки» на серебряной поверхности состояли всего из 100–100 000 атомов, а для наблюдения за изменением их состояния в случае протекания тока пришлось использовать сканирующий туннельный микроскоп.
    Как выяснилось, структуры такого типа смещаются в направлении, противоположном направлению протекания тока, и постепенно уменьшаются в размерах. При этом сила воздействия электронов оказалась значительно — практически в 20 раз — выше ожидаемой, что, по мнению исследователей, позволяет использовать её для направленного перемещения атомов в наноэлектронных компонентах.
    Авторам также удалось выяснить, что воздействие электронов снижается при размещении дефектов (фуллерена C60) вдоль границ «островков». «Основная причина этого заключается в том, что дефекты вызывают рассеяние электронов», — поясняет руководитель группы Эллен Уильямс (Ellen Williams).
    В настоящее время учёные проводят аналогичные эксперименты с наноразмерными структурами на поверхности графена, сообщает "Компьюлента".

    Просмотров: 23 | Добавил: cropsenti1975 | Рейтинг: 0.0/0
    Всего комментариев: 0

    Copyright MyCorp © 2019Бесплатный хостинг uCoz